Accuracy(����) Analogue probe(ģ�M�y�^) CMM������(bi��o)�y���C(j��)�� Contacting Probing system(���|ʽ̽�yϵ�y(t��ng)) Probe(�y�^) Probing system(̽�yϵ�y(t��ng)) Probe head(�y�^��) Proportional probe(�����y�^) Probe qualification(�y�^��(bi��o)��) Ram(���S) Requalification(����(bi��o)��) Scanning Probe(����y�^) Shank(�ֱ�) Stylus(̽�) Stylus tip(̽���^) Touch trigger probe(���|ʽ�|�l(f��)�y�^)
��ɽ�Ё����řC(j��)е�a(ch��n)Ʒ�z�y����(w��)����һ�Ҍ��I(y��)���������C(j��)е�a(ch��n)Ʒ�z�y�C(j��)��(g��u),�� �҂���Ҫ����(w��)�(xi��ng)Ŀ����: ��܇�z���{(di��o)ԇ,���C(j��)�ӹ����z�y,�����z���z�y���C(j��)е�a(ch��n)Ʒ��������(bi��o)�z�y,�� ���I(y��)�a(ch��n)Ʒ(����(sh��))�y�L�c�����ȷ���(w��),��
��վ�P(gu��n)�I�~:��ɽ������(bi��o)|��Ʒ�y�L|�z���{(di��o)ԇ|����(sh��)|��ɽ�Ё����řC(j��)е�a(ch��n)Ʒ�z�y����(w��)��
